E+H音叉物位計(jì)FTM51系列產(chǎn)品正宗
德國E+H音叉物位計(jì)FTM51系列是一款堅(jiān)固耐用的音叉限位檢測開關(guān)，適用于貯倉中的固體細(xì)料或低密度的松散固體粉料。用途廣泛，取得了粉塵防爆認(rèn)證。拋光叉體、卡箍過程連接、不銹鋼外殼或者鋁制外殼和涂層叉體.堅(jiān)固耐用的限位檢測開關(guān)，帶延伸管，用于固體細(xì)料以及爆炸危險(xiǎn)區(qū)域.
FTM51系列E+H音叉物位計(jì)典型應(yīng)用包括：谷物、面粉、可可豆、砂糖、動物飼料、染料粉、白堊.
E+H音叉物位計(jì)優(yōu)勢：
達(dá)到IEC 61508的SIL2級
無機(jī)械活動件、無需維護(hù)，無磨損，使用壽命長。
不受外部振動和粘附影響，操作無需維護(hù)，不受固體塊料影響
配備多種電子插件類型如NAMUR, 繼電器、半導(dǎo)體晶閘管、PFM信號輸出，實(shí)現(xiàn)與各個過程控制系統(tǒng)的連接
粘附和磨損顯示功能可選，密度設(shè)置和開關(guān)延遲功能可選
傳感器可選帶涂層或拋光型
E+H音叉物位計(jì)應(yīng)用領(lǐng)域；
限位檢測開關(guān)，用于固體細(xì)料和粉料檢測。
過程連接：螺紋、法蘭和衛(wèi)生型連接（卡箍）
溫度： -50 ~ +280°C (-60 ~ +540°F)
壓力： -1 ~ +25bar (-14.5 ~ +360psi)
傳感器長度： 300mm ~ 4,000mm
傳感器材質(zhì)： 316L (3,2?m, 0,8 ?m, PTFE 涂層, ETFE 涂層)
防爆認(rèn)證
特點(diǎn)/應(yīng)用 細(xì)谷粒及粉末狀顆粒的限位開關(guān)；叉型探頭；無需標(biāo)定；不受粘附及外部振動的影響；外部讀數(shù)，管型
特性 粘附檢測及腐蝕檢測；分離型；溫度型可選；SIL 2
電源/通信 三線制DC PNP；兩線制AC：19...253V AC / 19V...55V DC；2個繼電器觸點(diǎn)；8/16mA；NAMUR；PFM
環(huán)境溫度 -50 ... 70℃
過程溫度 -50 …280℃
過程絕壓/zui大過壓界限 真空可達(dá) 25 bar
zui小被測介質(zhì)密度 10 g/l ( 可選擇8 g/l )
接觸介質(zhì)部件 可選探頭：316L 3,2um、316L 0,8um、316L PTFE涂層（避免粘附）；探頭纜：PUR、Silicon
過程連接 "螺紋：1 1/4" NPT、1 1/2" DIN2999、1 1/2" NPT；EN法蘭：DN50...DN100；ANSI法蘭：2"...4"；JIS法蘭：50A...100A"
衛(wèi)生型過程連接 ISO2854三夾頭
傳感器長度 300 ... 4000mm ( 可選6000mm）
輸出 兩線制DC PNP；AC晶閘管；DPDT繼電器；8/16mA，NAMUR，PFM
證書和認(rèn)證 ATEX、FM、CSA、SIL
Safety approvals SIL
Design approvals EN 10204-3.1
可選項(xiàng) 玻璃罩，溫度隔離區(qū)，EN10204-3.1
組件 PFM: FTL325P, FTL375P；NAMUR: FTL325N, FTL375N
應(yīng)用局限
顆粒尺寸 > 10mm  E+H音叉物位計(jì)FTM51系列產(chǎn)品正宗
E+H物位計(jì)的產(chǎn)品性能
兩線制技術(shù),經(jīng)濟(jì)型
非接觸測量：不受介質(zhì)特性的影響
通過數(shù)文顯示菜單輕松進(jìn)行現(xiàn)場操作
通過操作軟件實(shí)現(xiàn)簡便的組態(tài)、文件編制及診斷
具備2個頻率范圍-約6GHz及26GHz：無干擾，適用于任何應(yīng)用場合
通信協(xié)議及基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
高溫：適用于高達(dá)+200℃的過程溫度，當(dāng)采用高溫天線時(shí)可達(dá)+400℃
帶有屏蔽管的桿式天線：可在狹窄的加接管及有冷凝和粘附的加接管內(nèi)可靠測量
E+H物位計(jì)是利用超聲波反射原理檢測常壓或低壓容器內(nèi)液體液位或固體料位的非接觸式物位測量儀表，可廣泛應(yīng)用于化工、電力、冶金、輕工、水處理等工業(yè)或民用部門的各種液體或固體物位測量，并可以對明渠、堰中的流量進(jìn)行測量。
E+H物位計(jì)采用線性的調(diào)制的高頻信號，一般都是采用10ghz或24ghz微波信號。它是一種基于復(fù)雜數(shù)學(xué)公式的間接測量方法，由頻譜計(jì)算出物位距離。天線發(fā)射出被線性調(diào)制的連續(xù)高頻微波信號并進(jìn)行掃描，同時(shí)接收返回信號。發(fā)射微波信號和返回的微波信號之間的頻率差與到介質(zhì)表面的距離成一定比例關(guān)系。